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太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS能夠定量檢測出材料內(nèi)的缺陷

更新時(shí)間:2023-02-20      點(diǎn)擊次數(shù):598
  太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS在光譜學(xué)、材料表征、安檢、通信等眾多領(lǐng)域應(yīng)用前景廣闊。全光纖耦合、工作在1560 nm 波段的激光器能夠相對來說高效地產(chǎn)生寬帶的太赫茲信號。為了把緊湊的超快飛秒光纖激光器可靠地集成到復(fù)雜系統(tǒng)中,它必須滿足在惡劣工作環(huán)境中仍能保持優(yōu)良的穩(wěn)定性、復(fù)現(xiàn)性以及魯棒性。
 
  太赫茲無損檢測技術(shù)關(guān)乎汽車、飛機(jī)、輪船、發(fā)電站、航空航天等重要的硬核領(lǐng)域,在這些領(lǐng)域中,發(fā)動(dòng)機(jī)渦輪、燃燒室、尾噴管、燃汽輪機(jī)渦輪等核心部件的組成一般是高溫合金為主要骨架,外部則需要涂敷陶瓷基復(fù)合材料等耐高溫材料作為熱屏蔽層。
 
  太赫茲波對CMC有較強(qiáng)的穿透性,因此太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS結(jié)合成像技術(shù)提供了一種解決方案,不僅能夠高精度測量涂層的厚度,并且能夠定量檢測出材料內(nèi)的缺陷。THz-TDS可用于對樣品進(jìn)行透射或反射檢測,在對吸收變化不敏感的透射測量中,反射模式為基底材料提供了更多的選擇。
 
  與光譜學(xué)相似的是,THz-TDS對待測材料的折射率很敏感,界面的反射率決定了反射太赫茲信號的振幅和相位,這使得它成為一種適用于層狀結(jié)構(gòu)的無損檢測 (NDT) 技術(shù)。利用脈沖太赫茲波進(jìn)行飛行時(shí)間 測量,可以在透射和反射模式下高精度地獲得各層厚度。與現(xiàn)有的其它技術(shù)相比,不僅可以通過太赫茲測試技術(shù)來確定涂層的總厚度,而且可以區(qū)分不同層之間的厚度差,最高可以達(dá)到微米量級的分辨率。
 
  產(chǎn)品特性:
 
  1、光譜范圍最高可至4THz;
 
  2、帶透射測試樣品倉,可充氮?dú)猓?br /> 
  3、針對小樣品可選聚焦太赫茲光束;
 
  4、有額外端口,適用于外部光纖耦合測試;
 
  5、可選x-y-z樣品位移臺,用于3D掃描透反射測試;
 
  6、T3DS軟件支持。

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